2024-11-23机器视觉|晶圆缺陷检测工控主板解决方案
晶圆缺陷检测是指在半导体制造过程中，通过高精度的机器视觉系统对晶圆表面进行全面扫描，以发现诸如划痕、颗粒污染、晶体缺陷等各类可能影响芯片性能和成品率的瑕疵。
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